应用案例

CASES

  • 0512-57389727
  • 顾先生
  • 18086708267
  • support@tainort.com
  • 昆山市开发区夏东街689号
       2002室
当前位置 : 官网首页 > 应用案例

半导体检测排序

1.精简

32-轴 和 模拟量 I/O

2.伺服节点间的ADC传输(20 KHz)

激光自动对焦(级联控制)

3.集中控制

主处理器轻负荷

复杂的系统,友好的界面

4.兼容多种接口

可以连接多种编码器,控制多轴电机

5.低 EMI

合理的集成


架构与需求

1.同时兼容正弦编码器/正交编码器(寻相用的霍尔)

编码器计数错误和编码器丢失检测

2.支持无刷直流电机/旋转电机或者有刷电机( 230VAC, 高达6/13A )

3.脉冲加方向输出至第三方驱动器

4.高分辨率模拟量输入(激光自动对焦)

5.28轴集中控制和坐标系控制

6.低噪声,低电磁干扰 

7.包装紧凑

60"(1.5m) x 40"(1m) x 12"(0.3m)